Geräte und Methoden

Transmissionselektronenmikroskope

Philips CM300 FEG/UT - STEM Raum 07 a/b
  • 300 kV Beschleunigungsspannung
  • abbildendes Elektronenenergiefilter (GIF, Gatan)
  • Weitwinkel ADF-Detektor (Fischione/Philips)
  • 2k x 2k MSC-CCD-Kamera
  • 1k x 1k SSC-CCD-Kamera
  • EDX-Detektor (HPGe) und Analysensystem (Noran System Seven, Thermo Fisher Scientific)
Philips CM30 T - STEM I Raum 03 c
  • 300 kV Beschleunigungsspannung
  • 1k x 1k MSC-CCD-Kamera
  • Elektronenenergieverlustspektrometer (PEELS, Gatan)
  • EDX-Detektor (Si) und Analysensystem (Noran System Six, Thermo Fisher Scientific)
Philips CM30 T - STEM II Raum 03 a
  • 300 kV Beschleunigungsspannung
  • 1k x 1k MSC-CCD-Kamera



Rasterelektronenmikroskope

Philips XL20Raum 02 c
  • EDX-Detektor (Si, Tracor) und Analysensystem (Voyager, Noran)
JEOL JSM-6400FRaum 04 c
  • EDX-Detektor (HPGe) und Analysensystem (Voyager, Noran)



Lichtmikroskop

Zeiss AxiotechRaum 04 a



Präparationslabor

IonendünnanlagenRaum 03 d
BedampfungsanlagenRaum 03 d
Geräte zur mechanischen PräparationRaum 03 d
  • zum Schneiden, Schleifen und Polieren


22.04.2013